| 機器ID | 装置名 | メーカー名 | 型番 |
|---|---|---|---|
| NU-101 | 反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡システム
Reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope (RS-HVSTEM) |
日本電子
JEOL |
JEM-1000K RS |
| NU-102 | 高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope (ARM Cold) |
日本電子
JEOL |
JEM-ARM200F Cold |
| NU-103 | 高分解能透過電子顕微鏡システム
High resolution analytical scanning transmission electron microscope |
日本電子
JEOL |
JEM-2100F/HK |
| NU-104 | 直交型高速加工観察分析装置
High performance focused ion beam system (FIB-SEM) |
日立ハイテクノロジーズ
Hitachi High-Tech |
MI4000L |
| NU-105 | バイオ／無機材料用高速FIB-SEMシステム
High performance focused ion beam system (FIB-SEM) |
日立ハイテクノロジーズ
Hitachi High-Tech |
ETHOS NX5000 |
| NU-106 | 試料作製装置群
Specimen preparation apparatus group |
試料作製装置群 |
